最新传感器内核基于硅带隙原理，与当今业界所有温度检测IC的原理相同。事实上，作为该技术的开拓者，ADI早在1978年就推出了业界经典的AD590。基于开发AD590后积累的经验，ADI进一步优化温度内核，结合领先的精密Σ-Δ型ADC技术实现了极高精度。除了优化设计外，ADI更开发出测试功能，使传感器可在高精度规格下执行可靠测试。
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